西門子星圖測試卡簡介

TE253西門子星圖測試卡主要檢查解析度·◕☁。兩組傾斜邊緣提供四個不同的調製（40％╃▩☁││，60％╃▩☁││，80％╃▩☁││，100％）·◕☁。在影象的中心╃▩☁││，該圖表明方形的徑向正弦調製西門子星,灰色補丁和黑色方塊內有白色小的正方形·◕☁。圖表的邊框有16個灰色補丁用於自校準·◕☁。邊角顯示更大的黑色方形╃▩☁││，並有一個更小的白色正方形在它的內部·◕☁。西門子星圖測試卡與ISO12233:2014標準是一致的·◕☁。也是可以印刷在粗麵紙上·◕☁。
 

產品細節

（1）Target allows multiple samples of MTF measurements to be taken from any point within the circumference of the circle.

（2）可以在Imatest軟體的星狀圖模組上測量清晰度

（3）比起eSFR分析來說西門子星狀圖對影象處理不太敏感·◕☁。

（4）有用於提高測試重複性設計的抵制噪點·◕☁。

（5）包含用於對比的低對比度的水平和垂直方向的雙曲線·◕☁。

（6）比起雙曲線在位置選擇上變化的差異小·◕☁。

（7）可以從各個角度╃▩☁││，如水平₪✘、垂直₪✘、徑向和切向等測量清晰度·◕☁。

（8）包含用於自動識別分析的標識