拖尾測量測試卡簡介

　　YE0175拖尾測試卡 是設計用於測量某些區域右側或下方的黑色區域中影片所引起的干擾•││。區域中的影片電平引起的干擾•││。該干擾的特徵在於恢復對應於黑色的正常影片電平的影片電平之前✘╃✘，測量延遲的持續時間•││。在水平白色線條排列在黑色背景上組成•││。

　　測量裝置

　　影片電平表B / W監視器✘╃✘，示波器✘╃✘，低通濾波器•↟↟│↟：500 KHz

　　測量條件

　　必須調整圖表照明✘╃✘，使白條給出平均光圈設定為100%的訊號•││。

　　增益•↟↟│↟：0dB

　　伽馬校準•↟↟│↟：OFF

　　輪廓校準•↟↟│↟：OFF

　　膝部校準•↟↟│↟：OFF

　　基座=標稱影片電平的5%(= 35 mV)

　　測量程式

　　在示波器上顯示穿過白線的線✘╃✘，並在R✘╃✘，G✘╃✘，B輸出端進行測量•││。重複測量以確認在各種情況下監視器上觀察到的條紋性質•││。為了區分過曝的效果和條紋測試卡 的效果✘╃✘，可以將不受穿過白色表面的僅受過曝影響的線的數目作為參考進行不同的測量•││。

　　結果介紹

　　條紋測試卡中黑色電平的最大峰值偏差與條紋外部的相鄰黑色相比•││。必須小心避免白色條紋 的過曝效應•││。結果以標稱幅度700 mV / 75Ω的百分比給出•││。